Observing field-induced effects in scanning tunneling microscope junction through lifetimes of resonant electrons
2025.12.10 (三）10:00 ~ 12:00
演講/課程/競賽
Observing field-induced effects in scanning tunneling microscope junction through lifetimes of resonant electrons
中央研究院物理研究所
蘇維彬 副所長
日期：114年12月10日
時間：10:10-12:00
地點：第九國際會議廳
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